電子萬能試驗(yàn)機(jī)對工作環(huán)境的溫度、濕度、灰塵等條件的要求如下：

　　

　　一、溫度要求

　　

　　1、適宜溫度范圍

　　

　　一般來說，試驗(yàn)機(jī)的工作環(huán)境溫度最好保持在20℃-25℃左右。在這個溫度范圍內(nèi)，試驗(yàn)機(jī)的機(jī)械部件、電氣元件以及傳感器等都能正常工作，確保試驗(yàn)精度和設(shè)備性能。例如，金屬材料在常溫下其力學(xué)性能相對穩(wěn)定，試驗(yàn)結(jié)果能夠更準(zhǔn)確地反映材料本身的特性。

　　

　　當(dāng)環(huán)境溫度過高，超過30℃時，可能會對設(shè)備產(chǎn)生一些不利影響。對于電氣系統(tǒng)，高溫可能導(dǎo)致電子元件的性能發(fā)生變化，如電阻值變化、電容性能降低等，進(jìn)而影響試驗(yàn)數(shù)據(jù)的采集和處理精度。同時，高溫還會使?jié)櫥偷酿ざ冉档停铀贆C(jī)械部件的磨損，縮短設(shè)備的使用壽命。

　　

　　當(dāng)環(huán)境溫度過低，低于10℃時，同樣存在問題。一些材料在低溫下會變脆，這可能導(dǎo)致在試驗(yàn)過程中試樣提前斷裂，而不是正常反映其力學(xué)性能。此外，低溫可能會使電氣系統(tǒng)中的電池電量消耗加快，并且可能導(dǎo)致液壓油的黏度增加，影響液壓系統(tǒng)的正常運(yùn)行，使試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)偏差。

　　

　　2、溫度波動要求

　　

　　除了維持在適宜的溫度范圍內(nèi)，還需要控制溫度波動。溫度波動應(yīng)盡量控制在±2℃以內(nèi)。因?yàn)闇囟鹊拇蠓▌訒鸩牧系臒崦浝淇s，導(dǎo)致試樣尺寸發(fā)生變化，從而影響試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。例如，在對高精度材料進(jìn)行楊氏模量測試時，微小的溫度變化都可能使測量結(jié)果產(chǎn)生較大的誤差。

　　

　　二、濕度要求

　　

　　1、適宜濕度范圍

　　

　　電子萬能試驗(yàn)機(jī)工作環(huán)境的相對濕度一般應(yīng)保持在30%-70%之間。在這個濕度范圍內(nèi)，可以防止設(shè)備因吸濕、受潮而損壞。合適的濕度也有助于減少靜電的產(chǎn)生，避免靜電對電子設(shè)備的干擾。

　　

　　當(dāng)相對濕度高于70%時，試驗(yàn)機(jī)的金屬部件容易生銹，尤其是未經(jīng)過防銹處理的部分。潮濕的環(huán)境還可能導(dǎo)致電氣短路，損壞設(shè)備的電子元件。例如，潮濕的空氣會使電路板上的焊點(diǎn)氧化，降低電路的可靠性，甚至引發(fā)故障。

　　

　　當(dāng)相對濕度低于30%時，空氣過于干燥，容易產(chǎn)生靜電和粉塵。靜電可能會吸附灰塵到設(shè)備的關(guān)鍵部件上，如傳感器、電機(jī)等，影響其正常工作。同時，干燥的環(huán)境也可能使某些非金屬材料制成的部件（如橡膠密封件）變干、變脆，導(dǎo)致其失去密封作用或損壞。

　　

　　2、濕度變化要求

　　

　　濕度的變化率也是需要注意的因素。在短時間內(nèi)，濕度變化不宜超過±5%。這是因?yàn)闈穸鹊募眲∽兓瘯乖O(shè)備內(nèi)部的材料來不及適應(yīng)，導(dǎo)致部件變形、開裂等問題。例如，當(dāng)濕度突然降低時，已經(jīng)吸收水分的材料會收縮，可能會引起結(jié)構(gòu)件的尺寸變化，影響試驗(yàn)的精度。

　　

　　三、灰塵要求

　　

　　1、灰塵顆粒大小限制

　　

　　為了保證電子萬能試驗(yàn)機(jī)的正常運(yùn)行和試驗(yàn)精度，工作環(huán)境中的灰塵顆粒直徑應(yīng)控制在較小范圍內(nèi)。一般來說，灰塵顆粒直徑不應(yīng)大于10μm。較大的灰塵顆粒可能會進(jìn)入設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如電機(jī)、傳動系統(tǒng)和電氣控制系統(tǒng)等，造成部件之間的摩擦增大、磨損加劇，甚至可能堵塞通風(fēng)口、散熱片等，影響設(shè)備的散熱性能。

　　

　　2、灰塵濃度要求

　　

　　環(huán)境中的灰塵濃度也應(yīng)盡可能低。在一般室內(nèi)環(huán)境下，灰塵濃度應(yīng)不超過0.1mg/m³。高濃度的灰塵環(huán)境會增加灰塵進(jìn)入設(shè)備的風(fēng)險(xiǎn)，并且過多的灰塵沉降在設(shè)備表面會影響設(shè)備的外觀和操作，例如，落在顯示屏上的灰塵可能會降低顯示清晰度，影響操作人員對試驗(yàn)數(shù)據(jù)的讀取。